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产品详情
Leica EM TXP
(销售区域仅限华东地区,科研领域)
Leica EM TXP是一款独特的可对目标区域进行精确定位的表面处理工具,特别适合于SEM,TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品,如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行定点处理。
 对微小目标区域进行精确定位和样品制备
 通过立体显微镜实现原位观察
 多功能化机械处理
 自动化样品处理过程控制
 可获得平如镜面的抛光效果
LED 环形光源亮度可调,4分割区段可选